德国米銥MICRO-EPSILON传感器在工业4.0的世界里，传感器必须执行高速测量并提供高精度的结果为了确保可靠的质量保证。特别是光学测量技术变得越来越多对生产和检验非常重要过程，因为它是非接触式的独立于目标材料和表面特性。这是决定性的在'生活'生产过程中的优势触觉测量技术特别是在其极限运行如果目标处于难以访问的状态区。德国MICRO-EPSILON共聚焦彩色传感器提供创新技术，高速度高精准度。共焦点彩色测量技术可以实现多层厚度透明材料的测量，距离测量，强度评估和凹槽内的测量和钻孔。测量过程非接触式，无磨损和差不多与表面特性无关。可以检测到极小的物体由于非常小的测量现货尺寸。因此，共焦半音测量程序是理想的适合内联质量控制。用于快速距离和厚度测量。不同的传感器型号和控制器接口开放了多种应用领域，例如半导体行业，玻璃行业，医疗工程和塑料生产领域。
MICRO-EPSILON传感器原理可以测量玻璃等透明材料的厚度。只使用一个传感器就可以检测到厚度值为微米精度。控制器提供可编辑的可扩展材料数据库。材料特定的参数（如折射率）可以使用Web界面进行调整。多峰值测量可以评估多达6个峰值，这就是多层物体（如夹层玻璃）的测量方法。具有高分辨率和高速度的控制器confocalDT控制器提供出色的信噪比，从而实现高精度测量。他们是zui快的控制器之一，经常用于动态监控任务。快速表面补偿调节曝光周期以实现高信号稳定性，这在测量具有变化的反射特性的表面时特别有利。接口为RS422，以太网或EtherCAT和AnalogOut。
MICRO-EPSILON传感器通过网络界面轻松使用由于用户友好的网络界面，整个配置过程不需要使用任何额外的软件。Web界面可以通过以太网访问，并提供设置和配置选项。材料存储在可扩展材料数据库中。原理可实现高精度位移和距离测量 - 包括漫反射和反射表面。由于测量点尺寸较小，可以检测到非常小的物体。轴向光路避免了阴影效应，即使在套筒和凹槽中也能进行测量。使用90°版本，可以在孔和凹槽内测量几何特征。
MICRO-EPSILON传感器特点：
高分辨率和测量速率的距离和厚度测量
自动化和生产控制的理想选择
几乎与表面无关，也适用于镜面和玻璃表面
极小且恒定的光斑尺寸
纳米分辨率
具有理想信噪比的工业级控制器
被动测量系统
新：集成光源的zui快的控制器 德国米銥MICRO-EPSILON传感器 |
